硅条探测器前端ASIC芯片测试系统电路设计

千奕; 苏弘; 徐四九; 李小刚

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硅条探测器前端ASIC芯片测试系统电路设计

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介绍一种前端读出专用集成电路(ASIC,Application-Specific Integrated Circuit)芯片性能测试系统的电路设计与实现.该ASIC芯片可用于构成硅微条探测器、硅条、Si(Li)和CsI探测器的前端读出电子学系统.本文详细描述了测试系统的构成,主要电路设计,系统应用以及部分测试结果,并简要介绍了被测ASIC芯片的电路结构.

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来源
《核技术》 |2008年第3期|229-232|共4页
作者
千奕; 苏弘; 徐四九; 李小刚;
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作者单位

中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

中国科学院研究生院,北京,100049;

中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

中国科学院研究生院,北京,100049;

中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表;
关键词
硅条探测器; 前端ASIC; 测试系统; 硬件设计;

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