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小角X射线散射研究石蜡加热过程中的结构变化

         

摘要

采用原位加热,用同步辐射X射线小角散射法研究了石蜡加热软化过程中的微结构变化.石蜡的电子密度回转半径从22℃的11.61 nm减至100℃的11.16 nm,而均方电子密度均方起伏从22℃的468 nm-2升高到100℃的2416 nm-2.由此,石蜡变软并非由内部结构单元变小引起,而主要由分子热运动加剧引起.

著录项

  • 来源
    《核技术》 |2007年第7期|568-570|共3页
  • 作者单位

    哈尔滨师范大学物理系,哈尔滨,150025;

    哈尔滨师范大学物理系,哈尔滨,150025;

    哈尔滨师范大学物理系,哈尔滨,150025;

    哈尔滨师范大学物理系,哈尔滨,150025;

    哈尔滨师范大学物理系,哈尔滨,150025;

    哈尔滨师范大学物理系,哈尔滨,150025;

    哈尔滨师范大学物理系,哈尔滨,150025;

    哈尔滨师范大学物理系,哈尔滨,150025;

    哈尔滨师范大学物理系,哈尔滨,150025;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 与物质的相互作用;
  • 关键词

    小角散射; 石蜡;

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