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南宋低岭头越瓷的同步辐射X荧光线扫描分析

         

摘要

采用同步辐射X荧光(SRXRF)探针技术,对南宋低岭头越窑青瓷残片作线扫描分析,发现其胎釉之间存在明显的中间层,这与汝瓷相似.并与北宋汝瓷线扫描图进行了对比分析,发现两者之间存在着一些差异:中间层要比汝瓷的稍薄一些,元素在釉中的含量分布与汝瓷不一样,从釉表面到内含量的变化都有反复过程.这种差异可能是两者所用的胎料和烧瓷的窑不同而造成的.

著录项

  • 来源
    《核技术》 |2004年第12期|953-957|共5页
  • 作者单位

    中国科学技术大学科技考古联合重点实验室,合肥,230026;

    中国科学技术大学科技考古联合重点实验室,合肥,230026;

    中国科学技术大学科技考古联合重点实验室,合肥,230026;

    中国科学技术大学科技考古联合重点实验室,合肥,230026;

    中国科学技术大学科技考古联合重点实验室,合肥,230026;

    浙江省文物考古研究所,杭州,310014;

    中国科学院高能物理研究所,北京,100039;

    中国科学院高能物理研究所,北京,100039;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 古物鉴定;
  • 关键词

    同步辐射X荧光; 南宋低岭头越瓷; 线扫描分析; 中间层;

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