质子轰去Gd.Eu和Nd引起的L亚壳层电离

刘兆远; 张华林

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用0.4—2.75MeV质子轰击稀土元素Gd、Eu和Nd靶,测得L亚壳层的X射线产生截面。利用亚壳层的荧光产额和Coster-Kronig跃迁几率的半经验值,求得2S_(1,2)、2P_(1/2)和2P_(3/2)三个亚壳层的电离截面。实验测得的电离截面以及它们的比值与ECPSSR理论预言值进行了比较。

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来源
《核技术》 |1991年第1期|36-40|共5页
作者
刘兆远; 张华林;
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作者单位

不详;

不详;

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正文语种 CHI
中图分类原子间的作用、激发与电离;
关键词
Gd; Eu; Nd; L亚壳层; 电离截面;

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