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X射线荧光分析中蒙特卡罗方法的应用

         

摘要

本文用蒙特卡罗方法模拟了人工Ni,Fe,Cr三元粉末样品中各元素特征X射线的强度,并和实验结果进行了比较。给出了一、二、三次荧光和康普顿、瑞利散射的强度比率,Si(Li)半导体探测器对于5—100keV射线的相对效率曲线,以及环状^(238)Pu激发源在一定的探测装置条件下的等效入射角和出射角。

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