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荧光X射线法测定纸张灰分

         

摘要

本文介绍用同位素源特征荧光X射线选择吸收法测定纸张灰分的原理、方法及装置。并对14只不同厚度、不同含灰量的纸样作了测定。每只样品测定时间30s。当纸张质量厚度在28—120g/m^2范围时,与重量法相比,灰分测定误差小于±1%,均方根偏差为±0.58%。

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