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荧光寿命观测系统的设计

         

摘要

cqvip:本文介绍了一种测量荧光寿命的新方法:利用荧光衰减曲线和RC电路衰减曲线合成李萨如图形来测量固体荧光材料的荧光寿命。文中阐述了荧光寿命的测试原理,对激励光源、供电的脉冲电源和光电转换器进行了分析,用所设计的荧光寿命观测系统对Nd∶YAG晶体的荧光寿命进行了测量,得到的数值为230ns,与理论值相等。

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