基于六西格玛方法的G.657.B3光纤研发方案

吴椿烽; 陈娅丽; 陈京京; 周建峰; 徐功明; 张烨锋

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基于六西格玛方法的G.657.B3光纤研发方案

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为了解决光通信领域中光纤产品在研发-生产阶段存在试验周期长、研发成本高和产品品质不稳定等问题,基于六西格玛质量管理方法,建立发明问题解决理论(TRIZ)-实验设计(DOE)-过程能力C_(pk)模型应用于抗弯曲光纤G.657.B3的研制,通过这一模型有利于开展高效的试验设计与试验成本控制,确定了G.657.B3光纤折射率剖面参数的最佳组合,并应用于批量化生产。实验结果表明:在1550 nm、1625 nm波长处,弯曲半径为5 mm且绕1圈时,光纤的宏弯典型损耗均值分别是0.063 dB、0.165 dB,光纤的宏弯性能优良。

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来源
《光通信技术》 |2023年第1期|81-85|共5页
作者
吴椿烽; 陈娅丽; 陈京京; 周建峰; 徐功明; 张烨锋;
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作者单位

中天科技精密材料有限公司;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类光波通信、激光通信;
关键词
光纤; G.657.B3; 六西格玛方法; 弯曲损耗; 折射率剖面;

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