基于GPIB技术的光插回损耗自动测试系统

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• 来源
  《光通信技术》 |2010年第11期|1-3|共3页
• 作者

  姚元; 叶苍竹; 曹祥鑫; 官守军; 殷璐; 冯正和;

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• 作者单位

  清华大学电子工程系,北京,100084;

  黄石晨信光电有限责任公司,湖北,黄石,435100;

  黄石晨信光电有限责任公司,湖北,黄石,435100;

  黄石晨信光电有限责任公司,湖北,黄石,435100;

  黄石晨信光电有限责任公司,湖北,黄石,435100;

  清华大学电子工程系,北京,100084;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 光纤通信;
• 关键词

  GPIB技术; 光插回损耗; 自动测试系统; 数据库;