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透镜中心偏测量中一种光轴拟合的新方法

         

摘要

光学中心偏测量对光学系统的检验和装校起着重要的作用,光轴拟合则是对中心偏测量数据的优化过程.提出了一种光轴拟合的新方法.该方法具有一些特点:原理上更科学,符合光学测量的实际;数学模型简单,易于编程实现;可以响应一些特殊的测量要求.该方法已经用于对多组实测数据进行优化,达到了预期的优化效果.

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