显微物镜杂光系数测量标准化的研究与实验

刘瑞祥; 王雅黎; 曹明; 曹根瑞

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利用中科院长春光机所 ZG—3显微物镜杂光测定仪,测量大量显微物镜的杂光特性,从而提出用杂光系数 VGI 和表征杂光系数 VGI(NA_c)描述显微物镜杂光特性。还介绍了我们对仪器中的可变测量参数,如目标板限制光阑孔径,离焦等因素对测量结果的影响方面所作的实验和分析。最后提出了我们对显微物镜杂光特性测量与评价标准化的建议。

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来源
《光学精密工程》 |1992年第1期|37-46|共10页
作者
刘瑞祥; 王雅黎; 曹明; 曹根瑞;
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作者单位

应用光学国家重点实验室;

杭州中国计量学院一系;

北京理工大学四系;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类显微镜;
关键词
显微镜; 杂光系数; 测量; 标准化; 研究;

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