首页> 中文期刊> 《光学精密工程》 >采样点分布对基于面形斜率径向基模型的自由曲面拟合精度的影响

采样点分布对基于面形斜率径向基模型的自由曲面拟合精度的影响

         

摘要

鉴于自由曲面模型的面形拟合精度在自由曲面表征以及面形初始结构选取等研究中的重要性,本文针对基于面形斜率的高斯径向基表征模型,研究了不同的采样点分布类型对该模型面形拟合精度的影响.采用不同采样点分布拟合离轴二次曲面和带凸起的抛物面,结果表明采用均匀随机分布的采样点有利于实现高精度的面形拟合,且达到一定的拟合精度后,采样点的数目对拟合精度的影响有限.以离轴三反系统为设计实例,对比了由不同采样方式生成初始面形后系统的像质优化结果.结果显示,采用均匀随机型采样方式得到的初始面形进行系统优化,最终全视场平均调制传递函数(MTF)可以达到0.72以上,远高于由边缘集中采样方式生成初始面形后系统像质的优化结果,从而印证了理论研究结果.

著录项

  • 来源
    《光学精密工程》 |2016年第7期|1564-1572|共9页
  • 作者单位

    南开大学现代光学研究所光学信息技术科学教育部重点实验室,天津300071;

    南开大学现代光学研究所光学信息技术科学教育部重点实验室,天津300071;

    南开大学现代光学研究所光学信息技术科学教育部重点实验室,天津300071;

    南开大学现代光学研究所光学信息技术科学教育部重点实验室,天津300071;

    南开大学现代光学研究所光学信息技术科学教育部重点实验室,天津300071;

    南开大学现代光学研究所光学信息技术科学教育部重点实验室,天津300071;

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所光学系统先进制造技术中国科学院重点实验室,吉林长春130033;

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所光学系统先进制造技术中国科学院重点实验室,吉林长春130033;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 结构;
  • 关键词

    光学设计; 自由曲面; 拟合精度; 采样点分布;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号