近代物理技术在多相催化研究中的应用(ⅩⅥ)——第十三章 场发射、场离子显微分析术及其在多相催化研究中的应用(上)

刘武; 任多敏

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一、概述自场发射显微镜(Field Emission Microscope,简称FEM)问世以来,它就成为固体表面研究,特别是表面化学研究的有力工具。在FEM基础上发明的场离子显微镜(Field Ion Microscope,简称FIM)和原子探针(Atom Probe,简称AP),进一步发展和增强了场致发射显微分析术的能力。这三种显微分析手段虽然都是利用强电场条件下的隧道效应来工作,但是各有特点,而且又各自几经改进。

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来源
《石油化工》|1992年第1期|63-70|共9页
作者
刘武; 任多敏;
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作者单位

华中师范大学物理系;

中国科学技术大学基础物理中心;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 O643.322;
关键词
场发射; 场离子; 显微分析; 多相催化;
入库时间 2022-08-21 01:25:20

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