相移量校准提高正交复合光三维测量的精度

何宇航; 曹益平; 翟爱平

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相移量校准提高正交复合光三维测量的精度

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由于滤波过程的影响,从复合半纹像中解调出的各帧变形条纹间的相移量发生了改变,采用传统正交复合三维测量方法中的相位算法进行解相会导致较大的相位误差,提出一种对条纹间相移量进行校准以提高正交复合光三维测量精确度的标定方法。首先从参考平面的复合光栅像中解调获得各帧相移正弦条纹,通过频域滤波的方法获取条纹的基频分量,计算出各帧正弦条纹相对于第1帧正弦条纹的相移量;然后在实物测量时以此相移量对解调出的各帧变形条纹间的相移量进行校准,建立了新的三维测量的数学模型。实验数据表明,本文提出的方法有效抑制了滤波过程导致的解相误差,将系统的测量精确度提高了将近1倍。

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来源
《光电子．激光》 |2011年第3期|404-408|共5页
作者
何宇航; 曹益平; 翟爱平;
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作者单位

四川大学光电科学技术系;

四川成都610065;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类光检测技术;
关键词
提高精度; 复合结构光; 三维测量; 正弦条纹; 滤波; 位相算法;

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