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基于Sagnac干涉仪的二阶关联光学相关识别

         

摘要

本文从理论和实验上对基于Sagnac干涉仪的关联光学相关识别进行了分析和验证。本文使用赝热光源照射在Sagnac干涉仪中测得的强度分布,运用关联干涉算法,再对计算结果进行傅里叶变换得到相关输出结果。在实验中,通过一级亮斑测得物体偏离光轴的距离为387μm和486.5μm,并能测出物体横向位移的变化量为97.5μm,与物体实际的横向位移量相差2.5μm,测量误差较小。本文通过观察相关输出的一级亮斑实现高精度的百微米量级的光学相关识别﹐拓宽了光学相关识别的应用领域。

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