提高CCD测量精度的方法研究

王和顺; 陈次昌; 黄惟公

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提出一种大幅提高CCD的测量精度的方法。将像素间距为H的CCD器件像素行沿与被测边缘垂直方向成α角度摆放时,单线阵CCD的最大测量误差减小为Hcosα;N个线阵CCD等距错排并以α角度斜放,最大测量误差将减小为(Hcosα)/N;当列间距为h的面阵CCD沿被测对象轴向斜放时,最大测量误差减小为hsinα。分别采用单CCD和双CCD,对直径为5.000、8.000和12.000mm的3个标准杆件的直径进行了测量,结果表明,双CCD斜放可获得更高的测量精度。

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来源
《光电子．激光》 |2010年第1期|63-65|共3页
作者
王和顺; 陈次昌; 黄惟公;
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作者单位

西华大学机械工程与自动化学院;

四川成都610039;

西南交通大学机械工程学院;

四川成都610031;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TF391.41;
关键词
光学测量; 高精度测量; CCD测量; 像素间距;

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