ZLI—1565液晶纯相位调制特性的实验研究

姜力军; 刘伟

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ZLI—1565液晶纯相位调制特性的实验研究

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本文简介了国内外向列相液晶相位调制特性的研究概况，对ＺＬＩ－１５６５型平行，扭曲型向列相液晶的相位调制特性者了实验研究。结果表明平行式向列液晶相移量大，光强度化小，并利用这一特性，将相移技术引入到剪切电子散斑干涉术中，提高了检测精度；相移方法简单、可靠。用该系统进行应变场的测量实验，取得了满意的效果。

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来源
《光电子．激光》 |1995年第3期|180-182173|共4页
作者
姜力军; 刘伟;
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作者单位

不详;

不详;

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正文语种 CHI
中图分类 O753.2;
关键词
液晶; 相位调制;

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