大位移电子散斑干涉法

周灿林; 李方; 王蕴珊

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大位移电子散斑干涉法

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针对电子散斑干涉(ESPI)法处理大位移时的困难,提出了一种改进的ESPI法。将数字散斑相关法(DSCM)引入ESPI中,由DSCM计算引起散斑去相关的面内位移,将所得二维面内位移对失配散斑场进行校准,恢复干涉条纹。用对离面位移敏感的ESPI光路,结合相移方法求得对应离面位移的相位数据,和二维面内位移一起,构成物体三维位移。对周边固定、中心加载的有机玻璃试件进行了测量,结果表明能产生质量干涉条纹,证明该方法是合理、可行的。

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来源
《光电子．激光》 |2005年第12期|1472-1475|共4页
作者
周灿林; 李方; 王蕴珊;
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作者单位

山东大学物理与微电子学院;

中山大学生命科学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类实验应力分析;
关键词
电子散斑干涉(ESPI); 数字散斑相关法(DSCM); 位移测量; 相移法;

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