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功率器件的二次击穿无损坏测试技术

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摘要

通过对功率晶体管二次击穿机理的分析和安全工作区的划分，提出了可行的无损坏二次击穿测试技术和无损坏二次击穿测试电路。该技术也适用于其他有二次击穿问题的器件。

著录项

来源
《电力电子技术》 |1995年第1期|61-65|共5页
作者
周友昆;
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作者单位

无;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类 TN320.7;
关键词
晶体管; 二次击穿; 测量;

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