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高温栅偏压和高温反偏压应力对PT-IGBT性能的影响

         

摘要

本文阐述了在高温栅偏压(HTGB)和高温反偏压(HTRB)应力条件下对穿通型(PT)IGBT性能的影响。在140℃、经历1200小时完成应力试验。获得了在上述两种不同应力下,有关开关型工作参数和测量结果的定量变化。由于IGBT的老化,定性分析了开关时间漂移对PWM逆变器运作的影响。

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