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磁控溅射银膜的晶粒结构对载流摩擦行为的影响

         

摘要

用磁控溅射法制备银膜,在导电脂润滑条件下进行载流摩擦实验,采用SEM、XRD、EBSD研究银膜在载流摩擦实验前后的晶粒结构变化.结果表明,磁控溅射方法制备的银膜表面晶粒均匀致密,断面形貌显示膜基结合好.银膜在(111)晶面出现择优取向,银膜表层和中层的晶粒分布和生长方向有利于其力学性能的发挥,且保证了较稳定的导电能力.银膜晶粒尺寸较小,平均晶粒尺寸为0.673μm,起到细晶强化的作用,且晶粒图中有不连续分布的孪晶银出现.磨损形貌较为光滑,存在点蚀坑能够容纳导电润滑脂,提升材料的导电性能.

著录项

  • 来源
    《贵金属》 |2021年第2期|15-20|共6页
  • 作者单位

    华北电力大学 能源动力与机械工程学院 北京 102206;

    内蒙古科技大学 机械工程学院 内蒙古 包头 014010;

    华北电力大学 能源动力与机械工程学院 北京 102206;

    内蒙古科技大学分析测试中心 内蒙古 包头 014010;

    华北电力大学 能源动力与机械工程学院 北京 102206;

    华北电力大学 能源动力与机械工程学院 北京 102206;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 摩擦与磨损;
  • 关键词

    磁控溅射; 银膜; 孪晶银; 载流摩擦;

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