宇航辐照对挠性电路的损伤性能及机理研究

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• 来源
  《印制电路信息》 |2022年第2期|43-47|共5页
• 作者

  邹文中; 周国云; 何为; 杨猛; 吴琼; 张彬彬; 毕建民;

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• 作者单位

  电子科技大学材料与能源学院;

  北京卫星制造厂有限公司电子装联中心;

  新华海通(厦门)信息科技有限公司;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 印刷电路;
• 关键词

  宇航环境; 挠性电路; 辐照试验; 损伤机理;