SOC中MBIST结构的设计与实现

黄玮

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SOC中MBIST结构的设计与实现

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现代SOC电路中,嵌入式存储器所占规模与数量趋于变大,使得测试也越之复杂,目前常用的测试方法是通过eda软件自动生成MBIST电路进行自测试.该设计基于一个实际的项目,对电路中存储器进行了完整的MBIST结构设计,同时加入了一个标志位移位电路,从而能够准确诊断出故障存储器,最后通过NC_verilog软件完成MBIST结构电路的仿真.

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来源
《科技传播》 |2015年第12期|130-131134|共3页
作者
黄玮;
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作者单位

江苏信息职业技术学院,江苏无锡 214153;

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正文语种 chi
中图分类计算机的应用;
关键词
存储器; MBIST; 测试; SOC;

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