首页> 中文期刊> 《科技传播》 >一种1/f噪声模型的分析方法

一种1/f噪声模型的分析方法

         

摘要

低频模拟电路中的1/f噪声是分析故障的典型代表.1/f过程是一种常见的非平稳的随机过程.上世纪人们的研究中发现,电子器件的可靠与否直接受器件的1/f 噪声的大小的影响,可靠性比较高的器件通常需要电路或者器件的1/f噪声小一些,这样使用的寿命也可以增长,抗环境干扰能力也比较好.文章在对1/f过程的研究理解中,提出了利用零均值白噪声作为小波基合成1/f过程的方法.由于1/f信号属于分析信号的一种,所以运用分形分析方法检测其合成效果.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号