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发射光谱法测定化探样品中的微量硼

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摘要

本文在杯状电极中装入试样与缓冲剂1：1的混合物，以锗为内标、两次截取重叠曝光，用发射光谱法测定化探样品中微量硼的含量，其检出限为1.0μg·g<'-1>，精密度为8.4％。标准物质分析结果与推荐值一致。

著录项

来源
《青海科技》 |2011年第3期|67-68|共2页
作者
邵明风;
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作者单位

青海省地质矿产测试应用中心,青海西宁 810008;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类
关键词
发射光谱法; 微量硼含量; 缓冲剂; 细颈杯状电极; 截取重叠曝光;

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