支持边界扫描测试的电路设计

李鑫; 刘伟

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支持边界扫描测试的电路设计

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基于IEEE 1149.1标准制定的边界扫描技术能够对复杂电路进行测试.并诊断出硬件问题.首先介绍了边界扫描测试电路的基本结构,针对基于边界扫描的大规模集成电路的特点,论述了为提高电路板的可测试性而采用边界扫描技术进行设计时应注意的一些基本要点,另外,还给出了能够获得良好测试性设计效果的边界扫描电路的设计方案.

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来源
《无线电通信技术》 |2009年第6期|42-45|共4页
作者
李鑫; 刘伟;
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作者单位

中国电子科技集团公司第五十四研究所,河北,石家庄,050081;

中国电子科技集团公司第五十四研究所,河北,石家庄,050081;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类数据处理、数据处理系统;
关键词
边界扫描测试; TAP; 可测试性设计;

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