完全非接触式液晶玻璃基板缺陷检测技术研究

刘正勇; 刘晏; 王广炎; 陈友东

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完全非接触式液晶玻璃基板缺陷检测技术研究

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液晶玻璃基板上分布了宽度和间距为微米级的电路,在工艺制作过程中极易产生短路和断路,影响显示器的品质和稳定性.本文为此提出了一种完全非接触式液晶玻璃基板缺陷检测方法,利用电路的分布电容完成信号检测电路与Pattern Line之间的耦合检测缺陷.试验证明,该方法应用于液晶玻璃基板缺陷检测中,简单、准确、可靠.

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来源
《机器人技术与应用》 |2018年第3期|30-33|共4页
作者
刘正勇; 刘晏; 王广炎; 陈友东;
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作者单位

合肥欣奕华智能机器有限公司;

合肥;

230013;

合肥欣奕华智能机器有限公司;

合肥;

230013;

合肥欣奕华智能机器有限公司;

合肥;

230013;

北京航空航天大学机械工程及自动化学院;

北京;

100191;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类
关键词
液晶玻璃基板; 完全非接触; 电学检测; 光学检测;

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