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不同氧压下脉冲激光沉积ZnO薄膜的研究

         

摘要

本文采用脉冲激光,在Si(001)衬底上生长ZnO薄膜,利用X射线衍射(XRD),原子力显微镜(AFH)等测试手段研究了不同氧气压力所生长的ZnO薄膜结构特征.研究表明:氧压不同制备的ZnO薄膜质量也不同.在不同的氧气压力下(0Pa~50 Pa)生长ZnO薄膜,XRD表明10Pa的氧压时有较强的(002)衍射峰和较小的半高宽.

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