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X射线在Au等离子体中的散射截面测量

         

摘要

阐述了X射线在等离子体中的散射截面研究的潜在价值及对惯性约束聚变(ICF)研究的重要意义,介绍了神光Ⅱ装置上的实验方案及诊断设备靶场排布.给出了该项研究的实验结果,并对实验结果作了初步的分析;给出了实验误差的主要来源,从获得的结果表明有望发展一种新的等离子体状态参数诊断技术.

著录项

  • 来源
    《科学技术与工程》 |2004年第5期|347-351|共5页
  • 作者单位

    高温高密度等离子体国防重点实验室,中国工程物理研究院激光聚变研究中心,绵阳919-986信箱,621900;

    高温高密度等离子体国防重点实验室,中国工程物理研究院激光聚变研究中心,绵阳919-986信箱,621900;

    清华大学工程物理系,北京,100084;

    高温高密度等离子体国防重点实验室,中国工程物理研究院激光聚变研究中心,绵阳919-986信箱,621900;

    高温高密度等离子体国防重点实验室,中国工程物理研究院激光聚变研究中心,绵阳919-986信箱,621900;

    高温高密度等离子体国防重点实验室,中国工程物理研究院激光聚变研究中心,绵阳919-986信箱,621900;

    高温高密度等离子体国防重点实验室,中国工程物理研究院激光聚变研究中心,绵阳919-986信箱,621900;

    高温高密度等离子体国防重点实验室,中国工程物理研究院激光聚变研究中心,绵阳919-986信箱,621900;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 辐射与测量;
  • 关键词

    激光等离子体 X射线 诊断 散射截面;

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