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基于单片机的半导体激光器参数测试技术的研究

         

摘要

随着半导体激光器(LD)参数测试技术需求的日益加大,提出了一种新型的半导体激光器P[V特性的测试方法.采用华邦51系列单片机(SCM)W78E58BF,作为控制核心,实现高稳定度的LD连续及脉冲驱动、恒流控制及功率、电压采集.

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