EDXRF不同束斑大小对测试分析青瓷釉成分的影响

龚玉武

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EDXRF不同束斑大小对测试分析青瓷釉成分的影响

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为探明能量色散X射线荧光光谱技术(EDXRF)中不同束斑大小对测试分析青瓷釉成分的影响,并了解原始青瓷、越窑青瓷以及龙泉青瓷瓷釉的均匀性特点,本研究在束斑直径2mm和100μm两种条件下进行了测试分析。分析结果表明,大束斑条件下,测试数据稳定,重复性好,微区束斑条件下,数据涨落明显,影响对瓷器年代、产地以及真伪情况作出正确的判定,需要根据检测条件选取更加严格的检测方法来降低测量误差,该研究对于提高古陶瓷EDXRF微区分析的精确度有十分重要的意义;研究同时表明,湖州原始青瓷均匀性不理想,推断主要是因为釉料未经淘洗或淘洗不精以及缩釉、开裂和剥落等情况造成的影响,而越窑青瓷和龙泉窑青瓷釉均匀性明显改善,它们都属于成熟青瓷。

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来源
《文物保护与考古科学》 |2012年第s1期|52-59|共8页
作者
龚玉武;
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作者单位

上海博物馆文物保护与考古科学实验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类基础理论;陶、瓷、砖瓦;
关键词
EDXRF; 微区分析; 瓷釉; 均匀性;

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