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T5761／T5761ES——面向未来的FLASH测试系统

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摘要

当今，FLASH存储器已被广泛应用于众多领域。随着FLASH单价的逐渐降低，如何有效地减少FLASH的测试成本成为了众多厂商关注的焦点。本文介绍了NAND型FLASH存储器的基本原理及发展趋势，并对如何通过爱德万测试的T5761/T5761ES测试系统降低测试成本做了讨论。

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来源
《半导体行业》 |2007年第1期|48-51|共4页
作者
刘恕;
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作者单位

爱德万测试（苏州）有限公司上海分公司;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类存贮器;
关键词
FLASH; NAND; FLASH; MLC; ECC; T5761; T5761ES; per-site; cycle; palette; 测试成本;

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