基于SV的NAND Flash控制器功能验证

吴录辉; 颜炳佳

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基于SV的NAND Flash控制器功能验证

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随着存储工艺的发展,NANDFlash存储架构被提出后,凭借存储量大,读写速度快等优势,迅速成为存储介质的首选。目前,存储系统通过控制器完成与Flash闪存颗粒的交互,但随着存储数据越来越巨大,NAND Flash控制器的稳健性、完备性也越来越受重视。本文采用System Verilog语言搭建测试环境,并结合SVA断言技术提出新的验证策略,即收集代码覆盖率、功能覆盖率、断言覆盖率三个重要指标,对NAND Flash控制器模块进行全面有效的验证,确保同步时钟单通道模式下,控制器使用双FSM设计依然符合设计要求。

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来源
《传感器技术与应用》 |2022年第2期|91-98|共8页
作者
吴录辉; 颜炳佳;
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作者单位

合肥工业大学合肥;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类计算技术、计算机技术;
关键词
System Verilog; SVA; 功能覆盖率; 断言覆盖率; NAND Flash;

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