首页> 中文期刊> 《太阳能》 >温度修正方法对晶体硅光伏组件测试精度的影响性研究

温度修正方法对晶体硅光伏组件测试精度的影响性研究

         

摘要

根据GB/T 6495.4-1996《晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法》,以及不确定度分析方法,并通过实验和理论分析得出,使用温度修正方法可放宽硅光伏组件测试的温度要求,同时具有较好的测试精度.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号