着陆姿态对地外天体表层采样的影响研究

郑燕红; 邓湘金; 庞彧; 盛瑞卿; 郭璠

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着陆姿态对地外天体表层采样的影响研究

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表层采样技术是获得地外天体特性的重要手段,是完成地外天体采样任务的一项关键技术.文章结合4自由度表层采样装置的特点,建立了表层采样装置的逆运动学模型,分析了极限着陆姿态下表层采样装置安装位置在当地参考坐标系中的变化,并针对一次封装与二次封装过程中表层采样装置的位置和姿态要求,明确了末端采样器姿态补偿方法,提出了着陆姿态对表层采样影响的分析算法.仿真结果表明,该算法能有效分析着陆姿态对表层采样的影响,可为表层采样装置适应性设计提供支持.

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来源
《航天器工程》 |2013年第5期|28-33|共6页
作者
郑燕红; 邓湘金; 庞彧; 盛瑞卿; 郭璠;
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作者单位

北京空间飞行器总体设计部,北京 100094;

北京空间飞行器总体设计部,北京 100094;

北京空间飞行器总体设计部,北京 100094;

北京空间飞行器总体设计部,北京 100094;

北京空间飞行器总体设计部,北京 100094;

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正文语种 chi
中图分类科学探索设备与仪器;
关键词
着陆器; 表层采样; 着陆姿态; 4自由度采样装置;

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