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李庆; 韦锡峰; 肖文斌; 俞佳江;
上海卫星工程研究所;
上海 201109;
光电器件; 位移损伤; 辐射效应评估; 仿真分析; 地面试验;
机译:使用位移电流评估方法评估有机器件的电荷注入特性
机译:基于S层高层建筑实验的层间位移测量验证的损伤监测系统电子防御第3部分损伤评估方法的验证
机译:离子辐照后砷化镓太阳能电池中位移损伤引起的电和结构效应
机译:使用低压化学气相沉积的Si3N4介电层改善介电电润湿微流体器件的介电性能
机译:使用光圈掩膜干涉法和Palomar激光制导星自适应光学器件在L个小矮人附近进行近距离搜索
机译:si结器件中的损伤位移现象:映射和解释科学和技术知识领域。
机译:半导体器件的损伤评估方法和制造方法,以及损伤评估装置
机译:用于充电损伤评估的半导体器件和充电损伤评估方法
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