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110kV GIS设备内部发热缺陷成因分析

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摘要

GIS设备内部发热缺陷通常发生在安装或大修后投入运行的一年内,因此,利用红外热成像技术来检测GIS设备内部发热缺陷成因,并针对隔离开关内部接触不良以及母线罐体法兰发热两个问题进行了探讨,希望为相关工作人员提供一些参考。

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来源
《通讯世界》 |2016年第8期|194-195|共2页
作者
郑月玲;
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作者单位

国网山东省电力公司汶上县供电公司;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类全封闭组合电器;
关键词
GIS设备; 内部发热; 缺陷; 成因;

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