双层腔体屏蔽效能随孔缝位置与数量变化规律研究

张岩; 田铮; 王川川; 杨清熙; 王思飞

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双层腔体屏蔽效能随孔缝位置与数量变化规律研究

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孔缝位置及数量会影响电磁波衍射,进而对双层腔体屏蔽效能产生重要影响。以中心位置携带单孔缝的双层腔体为研究对象,基于Robinson等效电路法与电磁拓扑理论,推导得到计算平面波辐照下双层腔体屏蔽效能的Baum-Liu-Tesche(BLT)方程。通过将偏心系数Cm与Robinson孔阵阻抗引入BLT方程,使修正后的BLT方程能计算含有任意孔缝位置与数量的双层腔体屏蔽效能。结果表明,双层腔体屏蔽效能随着内外层孔缝重合面积的减小而升高;当面积一定时,屏蔽效能随孔缝数量的增多而提高,然而,孔缝长度与波长相等时,屏蔽效能降低至极小值。BLT方程计算结果与CST仿真结果基本一致,并且计算时间极大幅度降低,证明修正后的BLT方程具有可靠性与快速性,为计算双层腔体屏蔽效能提供了一种有效且快速的方法。

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来源
《电工技术学报》 |2022年第13期|3350-3360|共11页
作者
张岩; 田铮; 王川川; 杨清熙; 王思飞;
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作者单位

河北科技大学电气工程学院;

陆军工程大学石家庄校区电磁环境效应国家级重点实验室;

电子信息系统复杂电磁环境效应国家重点实验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类电磁场理论的应用;
关键词
等效电路法; 电磁拓扑理论; 双层屏蔽腔体; BLT方程; 屏蔽效能;

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