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路良坤; 黄春跃; 黄根信; 梁颖; 李天明;
桂林电子科技大学 机电工程学院,桂林 541004;
成都航空职业技术学院 电子工程系,成都 610021;
桂林航天工业学院 汽车与动力工程系,桂林 541004;
球栅阵列; 正交试验; 灰色关联; 可靠性; 信号完整性;
机译:金字塔形堆叠芯片BGA封装的板级焊点可靠性分析和优化
机译:评估用于BGA焊点可靠性研究的加速度模型
机译:板级跌落冲击下Bga无铅焊点可靠性的实验和数值分析
机译:嵌入式微型BGA焊点可靠性和信号完整性的优化设计
机译:使用BGA封装的焊点可靠性评估:Megtron 6与FR4印刷电路板的跌落测试
机译:促炎性和抗炎性细胞因子谱的动态变化以及γ干扰素受体信号完整性的变化与结核病的活动和对治疗的反应相关
机译:考虑设计因素相互作用的BGa封装焊点可靠性评估新方法
机译:使用sRs软件的无铅芯片电阻器,芯片电容器和铁氧体片式电感器的焊点可靠性预测
机译:通过将破裂的焊球设置为无连接引脚,引脚,接地引脚,虚拟引脚和电源引脚来制造BGA封装以提高焊点可靠性的方法
机译:球栅阵列(BGA)半导体封装可提高焊点可靠性
机译:改善焊点可靠性的BGA半导体封装及其制造方法
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