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一种FCC金属晶粒平均取向的计算方法

         

摘要

与晶粒尺寸相类似,晶体取向也是材料研究中所要考虑的一种重要的微结构信息。晶体取向偏离随机分布状态的时候,就会呈现出织构状态,表现出各向异性行为 。上个世纪60年代以来,主要采用X—Ray衍射计算得到取向分布函数来表征宏观织构 ,这样所得到的结果是一个统计结果。直到20世纪80年代以来基于背散射电子衍射的EBSD技术的出现,人们对晶体取向的分析和应用才有了进一步认识。在EBSD分析中有时可能只对晶粒取向感兴趣,而实际材料中由于各种晶内显微组织的存在(位错胞、变形带等),各晶粒内部的取向并不完全一致,这时就需要计算晶粒的平均取向。本文提出了一种基于晶体取向四参量表征方法的晶体平均取向计算方法。

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