浅析射线对半导体性能的影响及锡焊料中去除射线技术的展望

唐丽; 孙绍福; 张欣; 秦俊虎

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浅析射线对半导体性能的影响及锡焊料中去除射线技术的展望

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射线对材料影响的大小,是由吸收了多少放射线的能量而决定的.在处理器及存储、逻辑、混合信号等的硅半导体元件中,LET有一定的极限值.如果被超过这个极限值的放射线照射,就会引发各种不良现象;而α射线是具有高LET的放射线代表之一.随着高集成化时代半导体元件向数字化、超薄化、微型化的发展,精密封装中射线这一问题日趋严重.而锡焊料作为与半导体元件直接接触的焊接材料,因其中的α射线导致半导体元件误动作的影响不容忽视.本文通过射线对材料结构影响的研究,浅析射线对半导体元件的影响及去除α射线的发展趋势,并提出解决该课题的建议方案.

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来源
《世界有色金属》 |2021年第13期|152-153157|共3页
作者
唐丽; 孙绍福; 张欣; 秦俊虎;
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作者单位

云南锡业锡材有限公司云南昆明 650501;

云南锡业锡材有限公司云南昆明 650501;

云南锡业锡材有限公司云南昆明 650501;

云南锡业锡材有限公司云南昆明 650501;

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正文语种 chi
中图分类有色金属及其合金;
关键词
α射线; 半导体; 劣化; 放射线元素;

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