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【2h】

P3HT:PCBM blend films phase diagram on the base of variable-temperature spectroscopic ellipsometry

机译：基于可变光谱椭圆偏振法的P3HT：PCBM共混膜相图

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In this work we present an in-depth study of the how the composition of poly(3-hexylthiophene) (P3HT):[6,6]-phenyl-C61-butyric acid methyl ester (PCBM) blend films influences their phase transitions using variable-temperature spectroscopic ellipsometry. We demonstrate that this non-destructive method is a very sensitive optical technique to investigate the phase transitions and to determine the glass transition temperatures and melting crystallization points of the P3HT:PCBM blend films. By analyzing the influence of the temperature T on the raw ellipsometric data, we have identified a high sensitivity of the ellipsometric angle Δ at a wavelength of 280 nm to temperature changes. Characteristic temperatures determined from the slope changes of the Δ(T) plot appeared to be very good guess values for the phase transition temperatures.
机译：在这项工作中，我们对聚（3-己基噻吩）（P3HT）：[6,6]-苯基-C61-丁酸甲酯（PCBM）共混薄膜的组成如何影响其相变进行了深入研究。变温光谱椭圆仪。我们证明了这种非破坏性方法是一种非常灵敏的光学技术，用于研究相变并确定P3HT：PCBM共混膜的玻璃化转变温度和熔融结晶点。通过分析温度T对原始椭偏数据的影响，我们确定了在280 nm波长下椭偏角Δ对温度变化的高度敏感性。由Δ（T）图的斜率变化确定的特征温度似乎是相变温度的很好猜测值。

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