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In situ-grown hexagonal silicon nanocrystals in silicon carbide-based films

机译:碳化硅基薄膜中的原位生长六角形硅纳米晶体

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摘要

Silicon nanocrystals (Si-NCs) were grown in situ in carbide-based film using a plasma-enhanced chemical vapor deposition method. High-resolution transmission electron microscopy indicates that these nanocrystallites were embedded in an amorphous silicon carbide-based matrix. Electron diffraction pattern analyses revealed that the crystallites have a hexagonal-wurtzite silicon phase structure. The peak position of the photoluminescence can be controlled within a wavelength of 500 to 650 nm by adjusting the flow rate of the silane gas. We suggest that this phenomenon is attributed to the quantum confinement effect of hexagonal Si-NCs in silicon carbide-based film with a change in the sizes and emission states of the NCs.
机译:使用等离子增强化学气相沉积法在碳化物基薄膜中原位生长硅纳米晶体(Si-NCs)。高分辨率透射电子显微镜表明,这些纳米晶体嵌入在基于非晶碳化硅的基质中。电子衍射图分析表明,微晶具有六方纤锌矿硅相结构。通过调节硅烷气体的流速,可以将光致发光的峰位置控制在500至650nm的波长内。我们认为,这种现象是由于碳化硅基薄膜中六角形Si-NCs的量子限制效应所致,而NCs的尺寸和发射状态也发生了变化。

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