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A 13-bit Noise Shaping SAR-ADC with Dual-Polarity Digital Calibration

机译:具有双极性数字校准的13位噪声整形SAR-ADC

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摘要

We present a new noise shaping method and a dual polarity calibration technique suited for successive approximation register type analog to digital converters (SAR-ADC). Noise is pushed to higher frequencies with the noise shaping by adding a switched capacitor. The SAR capacitor array mismatch has been compensated by the dual-polarity digital calibration with minimum circuit overhead. A proof-of-concept prototype SAR-ADC using the proposed techniques has been fabricated in a 0.5-μm standard CMOS technology. It achieves 67.7 dB SNDR at 62.5 kHz sampling frequency, while consuming 38.3μW power with 1.8 V supply.
机译:我们提出了一种新的噪声整形方法和一种双极性校准技术,适用于逐次逼近寄存器类型的模数转换器(SAR-ADC)。通过添加开关电容器,通过噪声整形将噪声推到更高的频率。 SAR电容器阵列的失配已通过双极性数字校准进行了补偿,且电路开销最小。使用该建议技术的概念验证原型SAR-ADC已在0.5-μm标准CMOS技术中制造。它在62.5 kHz采样频率下可达到67.7 dB SNDR,同时在1.8 V电源下消耗38.3μW的功率。

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