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Surface Oxygen Vacancies: Dynamics of Photo‐Induced Surface Oxygen Vacancies in Metal‐Oxide Semiconductors Studied Under Ambient Conditions (Adv. Sci. 22/2019)

机译:表面氧空位:在环境条件下研究的金属氧化物半导体中光诱导的表面氧空位的动力学(Adv。Sci。22/2019)

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摘要

Surface oxygen vacancy defects are some of the most reactive sites but are notoriously difficult to detect, often healing upon exposure to air. In article number , Ivan P. Parkin, Stefan A. Maier, and co‐workers show how photo‐induced enhanced Raman spectroscopy (PIERS) can be used to indirectly track vacancy formation and healing of photo‐induced vacancies under ambient conditions on metal oxide semiconductors.
机译:表面氧空位缺陷是一些最活跃的位点,但众所周知难以检测,通常在暴露于空气后会恢复。在文章编号中,伊万·帕金(Ivan P. Parkin),斯特凡·迈耶(Stefan A. Maier)及其同事展示了如何使用光致增强拉曼光谱(PIERS)来间接跟踪环境条件下金属氧化物上的空位形成和光致空位的愈合半导体。

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