机译:关于碳掺杂GaN中供体/受体补偿比的建模在横向GaN功率Hemts中的单一再现击穿电压和电流塌陷
机译:常态关闭的AlGaN / GaN低密度漏极HEMT(LDD-HEMT),具有增强的击穿电压和减小的电流崩塌
机译:第II部分:关于针对超高击穿AlGaN / GaN HEMT的GaN缓冲器中的工程设计供体和受体陷阱浓度的建议
机译:F等离子体处理的AlGaN / GaN HEMT的击穿电压和电流崩溃
机译:380V / 1.9A GaN Power-HEMT:高施加电压下的电流塌陷现象和27.1 MHz类放大器的演示
机译:为改善AlGaN / GaN MOS-HFET中的阈值电压稳定性和电流崩塌抑制而研究ALD介电材料的研究。
机译:使用AlGaN / GaN / AlGaN量子阱电子阻挡层的AlGaN / GaN HEMT中的高击穿电压
机译:关于碳掺杂GaN中供体/受体补偿比的建模,在横向GaN功率Hemts中的单一再现击穿电压和电流塌陷