Formation and Movement of Cationic Defects During Forming and Resistiven Switching in SrTiO3 Thin Film Devices

著录项

• 来源
  《Advanced Functional Materials》 |2015年第40期|6360-6368|共9页
• 作者

  Lenser Christian; Koehl Annemarie; Slipukhina Ivetta; Du Hongchu; Patt Marten; Feyer Vitaliy; Schneider Claus M.; Lezaic Marjana; Waser Rainer; Dittmann Regina;

  展开▼
• 作者单位

  Forschungszentrum Julich, Peter Grunberg Inst, D-52425 Julich, Germany.;

  Forschungszentrum Julich, Peter Grunberg Inst, D-52425 Julich, Germany.;

  Forschungszentrum Julich, Peter Grunberg Inst, D-52425 Julich, Germany.;

  Forschungszentrum Julich, Peter Grunberg Inst, D-52425 Julich, Germany.;

  Forschungszentrum Julich, Peter Grunberg Inst, D-52425 Julich, Germany.;

  Forschungszentrum Julich, Peter Grunberg Inst, D-52425 Julich, Germany.;

  Forschungszentrum Julich, Peter Grunberg Inst, D-52425 Julich, Germany.;

  Forschungszentrum Julich, Peter Grunberg Inst, D-52425 Julich, Germany.;

  Forschungszentrum Julich, Peter Grunberg Inst, D-52425 Julich, Germany.;

  Forschungszentrum Julich, Peter Grunberg Inst, D-52425 Julich, Germany.;

  展开▼
• 收录信息
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  hard X-ray photoelectron spectroscopy; photoemission electron microscopy; resistive switching; segregation;

  机译：硬X射线光电子能谱;光发射电子显微镜;电阻转换;偏析;