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机译:化学孔隙度计功能化的介孔二氧化硅单分子层对Cu〜(II)的检测
Department of Chemistry Korea University Seoul 136-701 (Korea);
机译:使用介孔二氧化硅(SAMMS)上硫醇自组装单层修饰的碳糊电极对铅(II)和汞(II)进行伏安检测
机译:介孔铝硅传感器,用于视觉去除和检测Pd(II)和Cu(II)离子
机译:巯基官能化的MCM-41介孔二氧化硅的合成及其在去除Cu(II),Pb(II),Ag(I)和Cr(III)中的应用
机译:基于介孔硅SBA-15的表面离子印迹聚合物的合成与表征,用于从水溶液中选择性除去Cu(II)
机译:使用涂有四硫化物官能化的介孔有机二氧化硅薄膜的微环共振器检测含水铅(II)和汞(II)。
机译:硫醇官能化介孔二氧化硅和Nafion复合电极检测未经预处理的天然水和尿液中的CdPb和Cu
机译:在官能化大孔隙中孔二氧化硅上的Pb(II)和Cu(II)金属离子的吸附
机译:在介孔二氧化硅(samms)材料上制备和测试工程形式的自组装单层膜