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Microwave introscopy using multifrequency measurements and transversal scan

机译：微波内窥镜使用多频测量和横向扫描

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Description of a microwave introscope combining multifrequency measurements and transversal scanning is presented. Longitudinal distance dependencies of reflectivity are obtained by synthesis from multifrequency data. The multifrequency measurements and synthesis is done in real-time. The apparatus carries out the measurements in free space. It is assembled using measuring modules of scalar reflectometer of series P2 (R2). Combination of data in longitudinal and transversal directions produces radio images of dielectric structures with embedded objects. A horn antenna as a probe is used. Some results of transversal resolution as function of distance and estimation of domain for correct determination of parameters structure are presented.
机译：介绍了结合多频测量和横向扫描的微波内窥镜。反射率的纵向距离相关性是通过从多频数据中合成而获得的。多频测量和合成是实时完成的。该设备在自由空间中执行测量。它使用P2系列（R2）标量反射仪的测量模块进行组装。纵向和横向方向上的数据组合产生具有嵌入对象的介电结构的无线电图像。使用喇叭天线作为探针。提出了横向分辨率作为距离和域估计函数的一些结果，用于正确确定参数结构。

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