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Accurate Far-Field Measurement of Wide-Angle Scanning Phased Array Antennas

机译：广角扫描相控阵天线的精确远场测量

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This paper presents a new approach to the accurate determination of the far-field (FF) pattern of wide-angle scanning phased array antennas (PAAs) that uses planar near-field (NF) technology. When PAAs are engaged in wide-angle scanning, a finite scanning plane and inaccurate probe compensation can lead to truncation errors. The proposed approach reduces these by rotating the PAA to make its main beam perpendicular to the scanning plane. To verify the effectiveness of the approach, both theoretical calculations and actual measurements were undertaken. The simulated and measured results prove that the proposed method is more accurate than traditional NF technology for a large PAA scanning angle, such as psi(0)=50 degrees and Delta(0)=50 degrees (in simulation; 54 degrees when measured).
机译：本文介绍了一种新的方法，准确确定了使用平面近场（NF）技术的广角扫描相控阵天线（PAAS）的远场（FF）模式。 当PAA从大角度扫描接合时，有限扫描平面和不准确的探针补偿会导致截断误差。 所提出的方法通过旋转PAA来减少这些方法使其主光束垂直于扫描平面。 为了验证该方法的有效性，进行了理论计算和实际测量。 模拟和测量结果证明，该方法比传统的NF技术更精确，对于大型PAA扫描角度，例如PSI（0）= 50度和Δ（0）= 50度（在模拟中;测量时54度） 。

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